Schnell zu detaillierten Kennlinien
Der Trend zur neuromorphen Rechner- und Speicherentwicklung macht neuartige, komplexe Testsysteme notwendig. Genau hier punktet unser Testsystem aixMATRIX. Es ist speziell auf die Anforderungen von memristiven Speicherarchitekturen zugeschnitten. Das vollintegrierte Matrix-Testsystem ermöglicht die simultane Anregung von Teststrukturen auf 64 Analogkanälen mit 16-bit DA Wandlern bei einer Sample-Rate von je 100 MS/sec. Die bipolaren Signale können mit bis zu ±10 V erzeugt werden. Eine ultraschnelle und bipolar einstellbare Strombegrenzung ermöglicht eine detaillierte Analyse von memristiven Speichern mit Ansprechzeiten bis unterhalb von 50 ns.
Ideal für Forschung und Entwicklung
Auf 32 Kanälen können die Strom-Antworten der Teststrukturen mit 16-bit bei 200 MS/sec aufgelöst werden. So lassen sich simultan aktive und passive Speicher-Arrays von bis zu 32×32 Zellen untersuchen. Die Integration auf einem 200 mm Wafer-Prober erlaubt schnelles Testen von komplexen Architekturen auf Wafer-Level. So ist das 32×32 Matrix Testsystem eine ideale Plattform, um die Forschung und Entwicklung von neuartigen neuromorphen Speichersystemen voranzutreiben.
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Komplettsystem für memristive Arrays
- Halbautomatischer Wafer-Prober
- Innovative Kontaktierung inkl. wählbarer Stromverstärkung und analog einstellbarer Strombegrenzung (Current Compliance)
- Matrix-System mit 64 DACs und 32 ADCs
- LabView-basierte Software-Umgebung mit optionaler Matlab-Schnittstelle
Flexibel einsetzbar
Ein halbautomatischer Wafer-Prober bildet die Basis des Paralleltestsystems. Er ermöglicht mit einer automatischen Kontaktierung, dass ein kompletter Wafer Software-gestützt durchgesteppt werden kann. Damit ist aixMATRIX ideal für Produktionstests und Experimente mit großer Statistik geeignet.
Zu den Highlights zählen:
- Komplett geschirmte Messumgebung
- Thermo-Chuck (je nach Ausführung sind Messungen bei -60 °C bis 300 °C möglich)
- Manuelle Frontbeladung oder komfortable Seitenbeladung der Wafer
- Auch kompatibel mit einzelnen Dies anstelle ganzer Wafer
Für die Messung einzelner Memristoren haben wir eine Wedge-Kontaktierung entwickelt, mit der Sie im unteren Nanosekunden-Bereich messen. Für Messungen an komplexeren Strukturen bzw. Arrays wechseln Sie einfach in den Matrix-Modus.
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Versorgt durch eine Gigasample-Messkarte (DAC + ADC) charakterisieren Sie die Kinetik Ihrer einzelnen Memristoren im Wedge-Modus schnell und unkompliziert. Die speziell entwickelte Strombegrenzung reagiert innerhalb von 50 ns und ist direkt auf der Wedge und somit möglichst nah an der zu testenden Zelle implementiert. Hier wird darüber hinaus das gemessene Stromsignal verstärkt und der Messkarte zugeführt.
Kombiniert mit dem halbautomatischen Wafer-Prober wiederholen Sie Ihre Messung unkompliziert für jede verfügbare Zelle.
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Wenn Sie komplexere Strukturen messen möchten, wechseln Sie vom Wedge-Modus in den Matrix-Modus.
Für Ihr frei konfigurierbares Nadel-Layout stehen Ihnen 64 DAC und 32 ADC Kanäle zur Verfügung. Analog zum Wedge-Modus finden Sie nah an der Kontaktierung 32 unabhängige, schnelle und analog programmierbare Strombegrenzungen sowie 32 einstellbare Stromverstärker.
FEATURES
64 unabhängige DACs: Geben Sie zeitlich parallel an jeder Nadel eine eigene Wave-Form mit 100 MS/s aus. 32 unabhängige ADCs. 32 Strombegrenzungen: Innerhalb von 100 ns limitieren Sie den Strom am Eingang in Ihr Memristor-Array. 32 Stromverstärker: Am Ausgang Ihres Arrays zeichnen Sie 32 unabhängige Stromsignale mit 100 MS/s auf. 64 unabhängige DACs: Geben Sie zeitlich parallel an jeder Nadel eine eigene Wave-Form mit 100 MS/s aus.
32 unabhängige ADCs.
32 Strombegrenzungen: Innerhalb von 100 ns limitieren Sie den Strom am Eingang in Ihr Memristor-Array.
32 Stromverstärker: Am Ausgang Ihres Arrays zeichnen Sie 32 unabhängige Stromsignale mit 100 MS/s auf.
Da der Wafer-Prober mit einem Megazoom-Mikroskop und Seitenkamera ausgestattet ist, kontaktieren Sie dank der hervorragenden Optik schnell und sicher jede Struktur.
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